用于质量保证的三维 X 射线测量技术
ZEISS METROTOM
基于蔡司METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）
利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次 X 射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的性。配备线性导轨及转台，满足客户对性的高要求。
第三代新款蔡司METROTOM 1500面向未来的质量控制——今天
十二年来，蔡司METROTOM系列一直为质量控制提供可靠的CT技术。第三代计算机断层扫描（CT）系统蔡司METROTOM 1500地证明了先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。今天，您可以使用面向未来的质量控制。
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在第三代系统中，新的3k检测器可生成更高分辨率的3D体数据集，即更多体素可以检测到更小的缺陷。
扫描更快。
通过检测器的不同操作模式，扫描时间可减少多达75％，同时获得与2k检测器相当的体素尺寸。
1) 探测器边缘最多3%余量
2) 发货前制造工厂检验
3) Ip/mm=线对/毫米
4) 精度规格适用于在图像中而非扩展条件下进行测量
5) 精度规格适用于VAST扫描模式及投影数量gt;=METROTOM OS推荐的投影数量
6) 测量长度L 单位为mm
1) 给出理论工件尺寸，给出数值描述了工件旋转时的包容圆柱，如考虑工件夹具则此数值将可能缩减。
2) 满足精度的必要条件。
3) 转动惯量 J = 0.6kgm2 及转矩 10 Nm
应用领域：
使用蔡司METROTOM轻松进行测量测量与检验整体部件
蔡司METROTOM是一种工业计算机断层扫描系统，用于测量和检查由塑料或轻金属制成的完整部件。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。
轻金属部件的测量检验
轻松且地进行多样化特征检测
利用蔡司METROTOM 计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，蔡司METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。
连接器的测量。
三维CT数据综合分析
易于使用，甚至适合初学者使用的分析软件GOM Volume Inspect允许在3D中完成CT数据分析。可以分析几何结构、收缩孔或内部结构和组件。即使是最小的缺陷也可以通过单个截面图像看到，并且可以根据各种标准自动。还可以将多个零部件的体积数据加载到项目中，执行趋势分析，并将分析与CAD数据进行比较。通过这种方式，可以准确地确定和记录组件的质量，并且所有这些都可以在一个软件中完成。
